東京精密 三坐標測量機XYZAX SVF NEX

東京精密 三坐標測量機XYZAX SVF NEX

XYZAX SVF NEX是東京精密推出的新一代非接觸式光學掃描三坐標測量機，依托品牌在精密光學領域的深厚技術積累，將高精度三坐標定位與高速光學掃描結合，解決了傳統接觸式測量難以應對的軟質工件、薄壁零件、復雜自由曲面的檢測痛點，廣泛應用于逆向工程、模具開發、醫療器械、消費電子、3D打印等領域，是精密檢測領域的代表性光學測量設備。

SVF NEX的核心優勢在于非接觸測量的高精度與高效率，設備搭載東京精密自研的高分辨率線激光掃描頭，采用藍色激光技術相比傳統紅色激光，反光更少、邊緣識別更精準，可適配黑色、透明、高反光等多種復雜材質工件的掃描，單幀掃描點云密度可達每毫米100個點，掃描速度可達每秒10萬個測量點，相比接觸式測量效率提升數十倍，能夠快速獲取復雜工件完整的三維點云數據。設備保留了高精度機械定位結構，全花崗巖底座與空氣軸承導向保證了機械定位精度，結合全局校準算法，整體測量精度可達(2.0+L/200)μm，在非接觸測量領域達到頂級精度水平。

在功能適配層面，SVF NEX支持接觸式與非接觸式雙模測量，可根據工件特征靈活切換探頭：遇到剛性工件的簡單尺寸檢測，可切換接觸式測頭完成精準尺寸測量；遇到復雜自由曲面、軟質工件、薄壁易碎零件，直接切換光學掃描頭完成全形貌掃描，一臺設備即可覆蓋多類檢測需求，大幅降低企業采購成本。設備測量范圍覆蓋500×700×500mm至1000×1500×600mm，可適配從小型電子零件到中型模具工件的掃描檢測需求，支持大范圍點云自動拼接，無需多次移動工件即可完成全尺寸掃描。

操作體驗上，SVF NEX搭載東京精密自研的三維掃描測量軟件，支持自動點云降噪、網格重構、CAD模型比對，可一鍵生成偏差色譜圖，直觀展示工件形面偏差，同時支持標準STL等三維數據輸出，可直接對接逆向設計、3D打印等下游工序，操作邏輯直觀，即使是初次使用光學測量的人員也能快速上手。設備對安裝環境要求較低，常規計量室即可部署，不需要特殊光學環境，降低了使用門檻。

作為東京精密光學三坐標的旗艦機型，XYZAX SVF NEX延續了品牌一貫的精密品質，兼顧高精度、高效率與多場景適配，為復雜工件檢測與逆向工程提供了完整的解決方案，幫助制造企業提升研發與檢測效率，推動精密加工行業向更高精度方向發展。