東京精密 三坐標(biāo)測量機XYZAX SVF NEX

東京精密 三坐標(biāo)測量機XYZAX SVF NEX

XYZAX SVF NEX是東京精密推出的新一代非接觸式光學(xué)掃描三坐標(biāo)測量機，依托品牌在精密光學(xué)領(lǐng)域的深厚技術(shù)積累，將高精度三坐標(biāo)定位與高速光學(xué)掃描結(jié)合，解決了傳統(tǒng)接觸式測量難以應(yīng)對的軟質(zhì)工件、薄壁零件、復(fù)雜自由曲面的檢測痛點，廣泛應(yīng)用于逆向工程、模具開發(fā)、醫(yī)療器械、消費電子、3D打印等領(lǐng)域，是精密檢測領(lǐng)域的代表性光學(xué)測量設(shè)備。

SVF NEX的核心優(yōu)勢在于非接觸測量的高精度與高效率，設(shè)備搭載東京精密自研的高分辨率線激光掃描頭，采用藍色激光技術(shù)相比傳統(tǒng)紅色激光，反光更少、邊緣識別更精準(zhǔn)，可適配黑色、透明、高反光等多種復(fù)雜材質(zhì)工件的掃描，單幀掃描點云密度可達每毫米100個點，掃描速度可達每秒10萬個測量點，相比接觸式測量效率提升數(shù)十倍，能夠快速獲取復(fù)雜工件完整的三維點云數(shù)據(jù)。設(shè)備保留了高精度機械定位結(jié)構(gòu)，全花崗巖底座與空氣軸承導(dǎo)向保證了機械定位精度，結(jié)合全局校準(zhǔn)算法，整體測量精度可達(2.0+L/200)μm，在非接觸測量領(lǐng)域達到頂級精度水平。

在功能適配層面，SVF NEX支持接觸式與非接觸式雙模測量，可根據(jù)工件特征靈活切換探頭：遇到剛性工件的簡單尺寸檢測，可切換接觸式測頭完成精準(zhǔn)尺寸測量；遇到復(fù)雜自由曲面、軟質(zhì)工件、薄壁易碎零件，直接切換光學(xué)掃描頭完成全形貌掃描，一臺設(shè)備即可覆蓋多類檢測需求，大幅降低企業(yè)采購成本。設(shè)備測量范圍覆蓋500×700×500mm至1000×1500×600mm，可適配從小型電子零件到中型模具工件的掃描檢測需求，支持大范圍點云自動拼接，無需多次移動工件即可完成全尺寸掃描。

操作體驗上，SVF NEX搭載東京精密自研的三維掃描測量軟件，支持自動點云降噪、網(wǎng)格重構(gòu)、CAD模型比對，可一鍵生成偏差色譜圖，直觀展示工件形面偏差，同時支持標(biāo)準(zhǔn)STL等三維數(shù)據(jù)輸出，可直接對接逆向設(shè)計、3D打印等下游工序，操作邏輯直觀，即使是初次使用光學(xué)測量的人員也能快速上手。設(shè)備對安裝環(huán)境要求較低，常規(guī)計量室即可部署，不需要特殊光學(xué)環(huán)境，降低了使用門檻。

作為東京精密光學(xué)三坐標(biāo)的旗艦機型，XYZAX SVF NEX延續(xù)了品牌一貫的精密品質(zhì)，兼顧高精度、高效率與多場景適配，為復(fù)雜工件檢測與逆向工程提供了完整的解決方案，幫助制造企業(yè)提升研發(fā)與檢測效率，推動精密加工行業(yè)向更高精度方向發(fā)展。