日本MITUTOYO二次元彩色測(cè)量?jī)xQUICK IMAGE搭載2000萬(wàn)像素CMOS傳感器與RGB三色LED環(huán)形光源，實(shí)現(xiàn)±1μm/m的二維尺寸測(cè)量精度。其智能對(duì)焦系統(tǒng)可在3秒內(nèi)完成20-200mm變倍范圍內(nèi)的自動(dòng)聚焦，配合色彩分析算法，精準(zhǔn)識(shí)別工件表面劃痕、色差等缺陷。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量范圍300×200mm，支持CAD圖紙對(duì)比和SPC數(shù)據(jù)分析，特別適用于電子接插件、印刷電路板等彩色工件的快速批量檢測(cè)
日本MITUTOYO微細(xì)形狀測(cè)定系統(tǒng) UMAP是集成共聚焦顯微鏡與白光干涉技術(shù)的納米計(jì)量平臺(tái)，采用多傳感器融合架構(gòu)實(shí)現(xiàn)0.001μm~10mm跨尺度測(cè)量。其革命性的自適應(yīng)光學(xué)補(bǔ)償模塊可消除環(huán)境振動(dòng)影響，在±0.5℃溫變條件下仍保持0.005μm重復(fù)性精度。標(biāo)配智能三維重構(gòu)軟件，支持IC封裝凸點(diǎn)、微流控芯片等復(fù)雜微結(jié)構(gòu)的自動(dòng)特征提取與GD&T分析。
日本MITUTOYO微細(xì)形狀掃描探針圖像測(cè)量機(jī)采用接觸式探針與光學(xué)顯微成像融合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)0.01μm級(jí)三維形貌重構(gòu)。其智能壓力控制探針系統(tǒng)可自動(dòng)調(diào)節(jié)5-500μN(yùn)測(cè)量力，適用于半導(dǎo)體微結(jié)構(gòu)、MEMS器件等脆弱樣品的無(wú)損檢測(cè)。搭配高速激光位移傳感器，同步完成表面粗糙度（Ra 0.01-10μm）與微觀尺寸的復(fù)合測(cè)量。
日本MITUTOYO 大型CNC畫像測(cè)量機(jī) QV ACCEL是面向大批量檢測(cè)的智能型CNC影像測(cè)量系統(tǒng)，搭載高剛性龍門結(jié)構(gòu)與直線電機(jī)驅(qū)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)1000×800×600mm大行程下±1.5μm/m定位精度。其加速控制算法使測(cè)量速度提升40%，配合AI視覺(jué)引導(dǎo)系統(tǒng)可自動(dòng)完成復(fù)雜輪廓的批量檢測(cè)。
日本MITUTOYO 白光干涉儀QUICK WLI Pro系列是融合白光干涉技術(shù)與影像測(cè)量的復(fù)合系統(tǒng)，采用頻域分析算法實(shí)現(xiàn)0.1nm垂直分辨率，專用于超精密表面形貌檢測(cè)。其創(chuàng)新性的雙模式探頭可在同一坐標(biāo)系下完成2D尺寸測(cè)量與3D粗糙度分析，支持臺(tái)階高度、薄膜厚度等納米級(jí)參數(shù)測(cè)量。Pro系列升級(jí)環(huán)境振動(dòng)補(bǔ)償系統(tǒng)，在車間環(huán)境下仍保持±0.5nm重復(fù)精度，配合智能光強(qiáng)調(diào)節(jié)模塊，可穩(wěn)定測(cè)量鏡面、啞光等。
日本MITUTOYO QVH1 HYPER 302/404/606 Pro是新一代復(fù)合型高精度影像測(cè)量系統(tǒng)，搭載納米級(jí)閉環(huán)光柵尺與主動(dòng)溫控平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)±0.1μm重復(fù)精度（302機(jī)型）。全系標(biāo)配STREAM無(wú)停頓掃描技術(shù)，通過(guò)XY軸與頻閃照明同步，提升30%測(cè)量效率。專業(yè)版集成非接觸式色差傳感器，支持金屬、陶瓷等多材質(zhì)3D形貌分析，并配備AI驅(qū)動(dòng)的實(shí)時(shí)工藝偏差預(yù)警模塊。
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