產品型號：
更新時間：2025-04-29
廠商性質：代理商
訪 問 量 ：1555
028-68749778
產品分類
| 品牌 | OTSUKA/大塚電子 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 能源,建材/家具,電子/電池,汽車及零部件,綜合 |
產品信息
特點
● 可攜帶至現場的手持式
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質、可測量其鍍膜
測量項目
| 膜厚測量范圍 | 1μm～50μm |
| 測量重復性 | 0.01μm |
| 測量時間 | 1秒以下 |
Smart手持式膜厚儀與其他膜厚儀的比較
與桌上型光學膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現場”以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因為用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚計的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到值！
不需要量測經驗，可快速得到精準的膜厚結果
規格樣式
| 量測原理 | 反射分光法（光干涉法）、非破壞性量測 |
| 膜厚量測范圍 | 1~50μm（顯示上限60μm） |
| 重復精度 | 2.1σ 0.01μm（SiO2膜1μm） |
| 量測時間 | 1秒內 |
| 量測層數 | 1層 |
| 數據輸出 | 附屬操作屏幕顯示或以USB輸出Excel檔案 |
| 量測Spot | Φ1mm以下 |
| 重量 | |
| 約1.1kg |
選配
筆型探頭
能夠測量狹窄區域或形狀的樣品。 探頭端Φ6mm。
非接觸式載臺
對于濕膜或半導體晶圓等不想接觸的樣品，可以通過自由設定探頭位置進行非接觸測量。
使用場景
產品開發-量測試作品
1.攜帶到合作廠商等，直接在現場量測效率Up
2.試作階段的檢查方法商定效率Up
日本otsuka大塚電子Smart膜厚儀出售
產線-設定產線參數、提高良率
1.現場可直接量測，無須準備，量測時間短、效率Up
2.產品檢查的早期階段發現問題，事后的對策更加靈活
質量管理-品管效率Up
1.現場可直接量測高精度量測成品，盡早發現不良品異狀
2.事后的對策可更加靈活
日本otsuka大塚電子Smart膜厚儀
After Service-活用可攜帶的優點
在產品出貨后的客戶端也可直接帶去量測。
現場較難量測的立體物、無法切割破壞的樣品（例如：窗戶的Coating等）。
當前位置：
上一個：沒有了
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