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  • 美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS 偏光測量儀

    美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀 AxoScan 是測量樣品偏振特性的系統。AxoScan可被偏振片、緩震膜和液晶顯示器制造商以及這些產品的用戶所采用。AxoScan 可以測量偏振特性(全穆勒矩陣),報告樣品的關鍵偏振參數(偏振片特性、緩釋片特性、去極化特性)。測量在單個位置進行,通常是直徑為 1.5 毫米或 3 毫米的光束。如果需要測量更小的特征,可考慮使用 AxoS

    更新時間:2025-04-14
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  • 美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀

    穆勒矩陣(Mueller Matrix)是一種*的工具,用于全面描述和分析光與物質相互作用時的偏振變化特性。AxoScan系統,作為一款高精度、高速度的旋光儀,通過其特的措施,在可見光范圍內對樣品的偏振特性進行了深入探索。特別是在光束直徑為3mm的條件下,AxoScan能在極短的30ms內完成對整個穆勒矩陣的測量,這一性能確保了即使在快速變化的光學環境中也能進行準確的測量。

    更新時間:2025-04-29
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