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當前位置:首頁產品展示光學儀器美國AXOMETRICS艾克松美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀

美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀
產品簡介:

穆勒矩陣(Mueller Matrix)是一種*的工具,用于全面描述和分析光與物質相互作用時的偏振變化特性。AxoScan系統,作為一款高精度、高速度的旋光儀,通過其特的措施,在可見光范圍內對樣品的偏振特性進行了深入探索。特別是在光束直徑為3mm的條件下,AxoScan能在極短的30ms內完成對整個穆勒矩陣的測量,這一性能確保了即使在快速變化的光學環境中也能進行準確的測量。

產品型號:

更新時間:2025-04-29

廠商性質:代理商

訪 問 量 :1135

服務熱線

028-68749778

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品牌AXOMETRICS價格區間面議
產地類別進口應用領域電子/電池,綜合


美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀


AxoScan 是測量樣品偏振特性的系統。AxoScan可被偏振片、緩震膜和液晶顯示器制造商以及這些產品的用戶所采用。AxoScan 可以測量偏振特性(全穆勒矩陣),報告樣品的關鍵偏振參數(偏振片特性、緩釋片特性、去極化特性)。測量在單個位置進行,通常是直徑為 1.5 毫米或 3 毫米的光束。如果需要測量更小的特征,可考慮使用 AxoStep 成像偏振儀。與只測量特定偏振參數子集的 "部分 "或 "不完整 "偏振儀不同,AxoScan 和 AxoStep 可測量完整的穆勒矩陣。穆勒矩陣的 16 個元素包含了樣品可能的偏振特性。有易于使用的軟件可自動將穆勒矩陣轉換為透射率、偏振片特性(衰減和偏振)、延遲和去極化等有意義的參數。Axometrics 還可為較多行業提供定應用軟件。

美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀

技術參數

型號

MMSP-VIS

波長范圍

400-1000 nm

探測器類型

硅光電二極管

分辨率

約1320 x 1024

時間

約1~2.5秒/區域

探測器尺寸

7.87毫米(直徑)

型號

MMP-HSO

波長范圍

380-700 nm

探測器類型

光電倍增管

型號

MMP-NIR

波長范圍

1250 - 1600 nm  

探測器類型

InGaAs 光電二極管



 

 

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