日本OTSUKA大塚西南代理分光特性測量LCF

日本OTSUKA大塚西南代理分光特性測量LCF

日本OTSUKA大塚電子LCF系列分光特性測量系統(tǒng)，是面向光學(xué)薄膜、功能涂層、顯示面板等領(lǐng)域推出的大尺寸樣品全幅面分光特性檢測旗艦設(shè)備，依托大塚深耕多通道光譜測光領(lǐng)域的核心技術(shù)積累，專為傳統(tǒng)臺式光譜儀難以適配的大尺寸、異形工件檢測場景打造，是光學(xué)元件全性能質(zhì)控的標(biāo)級解決方案。

該系統(tǒng)以大塚標(biāo)志性的瞬間多通道測光技術(shù)為核心，摒棄傳統(tǒng)分光光度計逐點(diǎn)掃描的低效模式，單次曝光即可捕獲全波段完整光譜，最快5毫秒即可完成單點(diǎn)分光數(shù)據(jù)采集，動態(tài)范圍可達(dá)1,000,000:1以上，雜散光水平控制在1%以內(nèi)，可精準(zhǔn)捕捉大尺寸樣品不同區(qū)域的微弱光譜信號，避免雜散光干擾帶來的檢測誤差。系統(tǒng)搭載高精度自動XY位移掃描平臺，最大支持2000mm×1200mm的超大尺寸樣品放置，可一次性完成整面大尺寸光學(xué)玻璃、光伏鍍膜面板、車載顯示面板的全域分光特性掃描，生成全幅面的透過率/反射率分布云圖，檢測效率是傳統(tǒng)手動檢測的數(shù)十倍。

LCF系列采用模塊化柔性配置設(shè)計，可根據(jù)檢測需求靈活選配不同波段的光學(xué)模組，覆蓋從深紫外220nm到近紅外2500nm的全光譜區(qū)間，同時支持透射、反射、熒光等多種測量模式切換，無需更換核心主機(jī)即可完成樣品的全維度分光特性表征。系統(tǒng)標(biāo)配石英積分球、大口徑平行光管等豐富選配件，可適配異形曲面鏡片、大尺寸AR增透膜板、建筑節(jié)能玻璃等特殊工件的檢測需求，哪怕是大尺寸樣品邊緣的微小區(qū)域，也能通過選配的顯微探頭完成精準(zhǔn)定位檢測。

全系列搭載USB+LAN雙通信接口，支持檢測數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出與溯源存檔，符合工業(yè)質(zhì)檢的數(shù)據(jù)追溯規(guī)范，廣泛應(yīng)用于車載光學(xué)、光伏面板、建筑玻璃、大尺寸顯示面板等行業(yè)，是大尺寸光學(xué)元件量產(chǎn)質(zhì)控的核心檢測設(shè)備。