日本OTSUKA大塚西南代理散射光度計DLS-8000

日本OTSUKA大塚西南代理散射光度計DLS-8000

日本OTSUKA大塚電子DLS-8000系列散射光度計，是納米與界面化學(xué)領(lǐng)域的旗艦級全能分析設(shè)備，依托品牌早在2000年實現(xiàn)商業(yè)化的背向散射技術(shù)，突破傳統(tǒng)動態(tài)光散射設(shè)備的應(yīng)用局限，成為高濃度不透光樣品粒徑分析的方案。

這款設(shè)備將探測光角度設(shè)置在160°至180°的背向區(qū)間，可有效屏蔽樣品深層的多重散射干擾，無需對高濃度樣品進行反復(fù)稀釋，直接在原液狀態(tài)下完成精準(zhǔn)粒徑分析，避免稀釋過程引入的樣品性質(zhì)改變與操作誤差。系列內(nèi)細分多個配置版本：基礎(chǔ)款DLS-8000HL/HH適配常規(guī)實驗室通用場景，升級款DLS-8000DL/DH可搭配φ5微型電池，僅需50μl及以上的微量樣品即可完成測量，大幅降低珍貴樣品的消耗量；搭配φ30專用電池時，可在低角度測量分子量或極小顆粒時有效抑制雜散光，進一步提升弱散射樣品的檢測精度。

設(shè)備搭載動態(tài)+靜態(tài)光散射雙模式同步分析能力，在完成1nm至數(shù)μm范圍的顆粒尺寸、粒徑分布檢測的同時，可精準(zhǔn)獲取絕對分子量（覆蓋3×102至2×10?區(qū)間）、回轉(zhuǎn)半徑、第二維里系數(shù)等關(guān)鍵熱力學(xué)參數(shù)，實現(xiàn)一次進樣輸出多維度核心數(shù)據(jù)。還可按需選配偏振元件，通過測量散射強度的偏振分量，解析樣品的結(jié)構(gòu)各向異性信息；搭配DRM-3000差示折射率模塊，可直接完成dn/dc關(guān)鍵參數(shù)測量，無需額外外接設(shè)備。

全系列支持氦氖激光器、固態(tài)激光器、雙激光器多種光源選型，搭配浸沒式光學(xué)系統(tǒng)，對弱散射納米級粒子也能實現(xiàn)高精度測量。廣泛覆蓋蛋白質(zhì)、核酸、合成聚合物、膠體、半導(dǎo)體研磨液乃至凝膠態(tài)物質(zhì)的分析場景，是生物醫(yī)藥、新材料、半導(dǎo)體制造等行業(yè)的核心表征設(shè)備。