產品分類
日本OTSUKA大塚西南代理嵌入式膜厚監測器 分光干涉法膜厚計 搭載高精度FFT膜厚解析引擎 通過光學光纖可以構建靈活的測量系統 可以嵌入各種制造裝置 實時膜厚測量成為可能 遠距離操作、多點測量 采用長壽命、高穩定性的白色LED光源
日本OTSUKA大塚西南代理膜厚監測儀SM-100高精度且便攜的膜厚計 「無法立即測量的“現場”」 「不同人測量結果不同」 「測量精度差」 在測量膜厚時，是否遇到過這些問題？智能膜厚計具有以下特點，可以解決您的困擾。 ? 可以帶到生產現場的便攜式設備 ? 簡單所以任何人都能用 ? 即使是手持式也能進行高精度測量 ? 有形狀的樣品也可以非破壞性地測量
日本OTSUKA大塚西南代理膜厚監測儀FE-300F是一款通過高精度的光干涉法進行膜厚測量的小型且價格低廉的膜厚計，實現了簡單操作。 我們采用了將所需設備集成在主機內的多功能型結構，從而實現了穩定的數據獲取。 盡管價格低廉，但通過獲取絕對反射率，也能夠進行光學常數的解析。
日本OTSUKA大塚線掃描膜厚計®離線型 可以檢查薄膜等表面膜厚不均 可以快速且高精度地進行全面測量 膜厚測量的專門制造商所提供的充實支持 分光測量進行高精度的膜厚測量 硬件和軟件均為原創設計
日本OTSUKA大塚膜厚線掃描膜厚計®在線型 采用線掃描方式實現了全面無“漏”的膜檢查。 膜厚測量的專門制造商所提供的充實支持 高速?高精度地測量成為可能 采用抗晃動的光學系統 幅広的樣本（在TD方向上可測量最大10米） 硬件和軟件均為原創設計
日本OTSUKA大塚膜厚測定多通道分光器MCPD 這是從紫外線到近紅外區域的多功能多通道分光檢測器。最短5毫秒內可以進行分光光譜測量。通過標準裝置的光纖，可以在不特定樣品種類的情況下，對應各種測量系統。從顯微分光、光源發光、透過反射測量開始，通過軟件組合，還可以對應物體顏色評價、膜厚測量等。
當前位置：
