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美國KLA科磊Tencor® P-17探針式輪廓儀P-17探針式輪廓儀為生產和研發(R&D)環節提供從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維(2D)和三維(3D)測量，掃描范圍可達200毫米，無需拼接。
美國KLA科磊Tencor® P-7 探針式輪廓儀Tencor P-7探針式輪廓儀為生產和研發(R&D)環節提供了從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維(2D)和三維(3D)測量，掃描范圍可達150毫米，無需拼接。
美國KLA科磊HRP®-260探針式輪廓儀 HRP®-260 是一個高分辨率、自動化探針式輪廓儀，提供從幾納米到 300 微米的臺階高度測量功能。P-260支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D和3D測量，掃描范圍可達 200 毫米且無需拼接。HRP®-260 配置了與 P-260 相同的功能，但增加了高分辨率樣品臺以獲得類似 AFM 的掃描結果。HRP 系列高分辨率輪廓儀具有*的圖形識別算法
美國KLA科磊Tencor® P-170 探針式輪廓儀Tencor P-170是一款自動化輪廓儀，可為生產環節提供從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，掃描范圍可達200毫米而無需拼接。Tencor P-170具有*的圖形識別算法、增強的光學系統和*的樣品臺，可實現穩定的性能和系統之間程式傳輸的無縫銜接 - 這是實現全天候生產的關鍵。
美國KLA科磊Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀 Alpha-Step D-600 探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測量，以及用于研發和生產環節的2D翹曲度和應力測量。D-600 包含一個帶有200 毫米樣品載臺的電動樣品臺和具有增強影像控制的高級光學器件。
美國KLA科磊Alpha-Step®D-500 探針式輪廓儀 Alpha-Step D-500探針式輪廓儀能夠測量幾納米到1200微米高的2D臺階。D-500也支持在研發和生產環節中對粗糙度、彎曲度和應力進行2D測量。D-500探針式輪廓儀搭載了140毫米手動載臺和具有增強影像控制的高級光學系統。
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