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日本OTSUKA大塚西南代理分光特性測量LCF彩色濾光片的光學特性檢查和玻璃基板上的膜厚檢查等，適用于FPD生產過程中的所有檢查。
日本OTSUKA大塚西南代理膜測量系統nanoSAQ 多檢測體納米粒子徑測量系統 nanoSAQLA nanoSAQLA和自動采樣器AS50組合使用時，最多可以連續自動測量50個樣品。每個樣品的測量時間約為1分鐘，快速高效，而且在測量過程中可以添加樣品，非常適合操作簡便和縮短操作時間。細胞可以使用適用于有機溶劑的玻璃一次性細胞。
日本OTSUKA大塚西南代理散射光度計DLS-6500 使用動態光散射法可以測量粒徑和粒徑分布（粒徑、粒徑分布），使用靜態光散射法可以測量絕對分子量、慣性半徑和第二維里系數。
日本OTSUKA大塚西南代理散射光度計DLS-8000 使用動態光散射法可以測量粒徑和粒徑分布（粒徑、粒徑分布），使用靜態光散射法可以測量絕對分子量、慣性半徑和第二維里系數。
日本OTSUKA大塚西南代理膜厚測量系統GS-300 帶有模式匹配功能、X-Y位置精度在2um以下的系統。
日本OTSUKA大塚西南代理分光晶圓厚度計SF-3 在晶圓等的研磨拋光過程中，非接觸式地對晶圓和樹脂的厚度進行超高速、高精度的測量。
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